实验室具备完善的半导体器件与集成电路测试表征能力。
占地面积：300平方米
区域划分：器件测试区、低频测试区、高频测试区、探针测试区（配备12英寸探针台）、组装区
主要设备：半导体参数分析仪、低频噪声测试系统、器件电流波形分析仪、矢量网络分析仪、频谱仪、高速示波器
测试能力：直流特性、射频特性、噪声特性表征；模拟、射频、高速及混合信号芯片测试
典型仪器展示（图片和介绍单独分开的，图片来源：附件《数据中心与测试实验室展板-新》）：
实验室具备完善的半导体器件与集成电路测试表征能力。
占地面积：300平方米
区域划分：器件测试区、低频测试区、高频测试区、探针测试区（配备12英寸探针台）、组装区
主要设备：半导体参数分析仪、低频噪声测试系统、器件电流波形分析仪、矢量网络分析仪、频谱仪、高速示波器
测试能力：直流特性、射频特性、噪声特性表征；模拟、射频、高速及混合信号芯片测试
典型仪器展示（图片和介绍单独分开的，图片来源：附件《数据中心与测试实验室展板-新》）：